荧光渗透检测线用于检测金属材料或部件中的裂纹或缺陷。
常用的探伤方法有:x射线探伤、超声波探伤、磁粉探伤、渗透探伤(彩色探伤)、涡流探伤、射线探伤、荧光探伤等。
一般的磁粉探伤仪生产厂家都把重点放在物理探伤上,这是一种无化学变化的无损探伤。在不破坏工件或原材料工作状态的前提下,检测被检件表面和内部质量的检测手段称为无损检测。
X射线探伤是一种利用X射线穿透物体的方法.当遇到缺陷(面积缺陷更有效)时,光线能量会减弱,因此图像将形成在板上,类似于我们拍摄的平板。你可以在观察光下观察。
超声波检测是利用超声波穿透金属材料的深度,并从一个部位进入另一个部位,在界面缺陷的反射特征边缘。当检查零件表面的超声波束时,探头穿过内部的金属零件,当底部反射波遇到缺陷时,在屏幕上形成脉冲波形,根据脉冲波形确定缺陷的位置和尺寸。
荧光渗透和超声波探伤线是用于检测内部缺陷的两种最常用的方法。
涡流探伤是利用电磁感应原理检测导电元件表面及近表面缺陷的一种方法。其原理是利用励磁线圈在导电元件中产生涡流,用检测线圈测量涡流的变化,从而获得元件缺陷的信息。
根据探测线圈的形状,可将其分为三种类型:直通式(用于检测导线、杆和管道)、探针型(用于元件表面的局部检测)和插入式(用于内部检测孔)。