检测原理

探伤机阵列涡流检测原理阵列涡流技术与传统涡流技术具有相同的检测将通人交变电流的激励线圈放置在导电部件一时，导体表面会产生涡流，导体中的缺陷会干扰涡流路径，这种干扰可以通过检测线圈来测量，进而判磁粉探伤机

断出缺陷的情况”。阵列涡流探头具有多个独立工作的线圈,这些线圈按照特殊的方式排布，激励线圈和检测线圈之间形成两种方向相互垂直的电磁场传递方式，可减少因缺陷方向造成的漏检,并且可实现一次性大面积扫查,得到C扫描成像结果。为了保

证激励磁场和感应磁场之间不相互干扰，阵列涡流技术通常采用多路切换技术对感应线圈进行分时分批激励。阵列涡流检测的结果通常以C扫描显示为主,同时生成阻抗图和带状图,通过不同的颜色显示来判断缺陷的情况[3]。

1.2全聚焦相控阵检测原理 

全聚焦相控阵检测过程主要包括两个部分:全

矩阵数据采集(FMC)和全聚焦成像算法。

全矩阵数据采集原理为假定相控阵探头具有n

个阵元，激发第一个阵 元，所有阵元接收回波信号并

储存,按照此规律，依次激发所有阵元，最后采集得

到nXn个时域超声回波信号，因为被采集数据存

储在一个n行n列的矩阵中，所以称之为全矩阵数试验采用64 晶片，频据采集[4]。

全聚焦成像算法原理为针对所检区域设定

个自定义成像区,得到任意一- 点到任意一对品片

组合的声程，再以成像区中的声程数据为依据，对

FMC数据进行相干叠加处理,获得表征该点信息

的幅值。采用该算法得到自定义成像区内每点的

成像，最终达到各点能量高度聚焦的效果”。